数值孔径(NA)与光通过的介质的折射率(n)以及给定物镜的孔径角(α)有关(NA=n × sin α)。显微镜的分辨率不仅取决于物镜的NA,还取决于整个系统的NA,要把显微镜聚光镜的NA也纳入考虑。在显微镜系统中,所有光学元件都正确对齐、具有相对较高的NA值并且相互协调工作,可以分辨出更多的图像细节。分辨率还与标本成像所用的光波长有关;波长越短,可分辨的细节越多,波长越长则分辨细节越少。
Ernst Karl Abbe(1840-1905)是一位德国数学家和物理学家。他与Carl Zeiss共同创立了“蔡司光学工作室”即现在的蔡司公司。除此之外,他还在1884年联合创办了Schott Glassworks。Abbe还是定义数值孔径这一术语的首位学者。1873年,Abbe发表了自己的理论和公式对显微镜的衍射极限进行了解释。Abbe发现,标本图像由许多重叠的、多强度且存在衍射极限的点(或艾里斑)所组成。
Y. Holzapfel, J. DeRose, G. Kreck, M. Rochowicz, Cleanliness Analysis in Relation to Particulate Contamination: Microscopy based measurement systems for automated particle analysis, Science Lab (2014) Leica Microsystems.
N. Ecke, Basics in Component Cleanliness Analysis, Science Lab (2017) Leica Microsystems.
LAS X软件是徕卡公司德国软件团队研发的多功能应用软件,在这个软件平台上不但能实现徕卡多型号特别是数码显微镜及摄像头的统一操控,利用各图像处理功能模块完成特殊的图像采集工作,还可以对图像进行处理及高级分析,在配合数码显微镜采集图像时,能够自动识别物镜的倍数,在所拍摄的图片里加入相应的标尺等自适应功能。