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为工业应用获取最佳结果
对于尝试为样品观察选择最优照明或灯光系统的立体显微镜 用户,本报告可为其提供有用的建议。
用于显微观察的照明对最终图像质量有非常重要的影响。选 择能呈现最佳效果的照明取决于样品的类型、样品相关特征以及显微镜观察的应用领域和目的 。以下信息有助于显微镜用户选择产生最佳成像效果的照明系统。
LED (发光二极管) 照明的优势与常用的卤素灯相比,LED 显微镜照明技术可为显微成像提供 几大优势,包括:
·更长的寿命 (25,000 至 50,000 小时)
·更低的功耗
·自然色温
·冷光”源 → 更少的热量释放 (对温度敏感的样品很有用)
·实用的紧凑型设计
·即使在不同亮度等级下也能保持恒定的色温
选择照明的关键因素
选择正确的照明类型时,要针对样品的高品质显微观察和成 像考虑几点重要因素:
·要观察何种类型的样品?
·要分析样品的哪些特征?
·使用当前所用照明类型有哪些不足?
·在显微观察期间是否需要操作样品,例如,使用手术刀、镊 子、烙铁或其它工具进行操作?
显微镜用户可能需要尝试多种照明类型才能找到最优的照明。用户在确定购买照明之前,可由 Leica Microsystems 的销售代 表或授权经销商安排各种照明系统的演示。
Leica LED5000 系列照明系统主要用于高性能立体显微镜,例如 Leica M125、M165 或 M205。Leica LED3000 系列系统主要用于常规的 立体显微镜,例如,Leica S4、S6、S8 APO、M50、M60 或 M80[7]。下面介 绍了一些关于 Leica LED5000 和 LED3000 系列的基本信息。
LED (发光二极管) 照明系统概述
环形灯 (RL)
环形灯 (RL) 为样品提供均匀、明亮的照明;适用于大部分样品类型。此外,匀光和偏光套件均适用于环形灯类型。这些附件能减少光点眩光和高光的问题。
体视显微镜应用中如何选择照明(灯光)系统
同轴照明 (CXI)
同轴照明 (CXI) 的光束由光学部件引导并从样品上反射,最适合反光的平滑样品。在需要评估细裂纹或表面质量时,它极为有用。
近距离垂直照明 (NVI)
近距离垂直照明 (NVI) 的 LED 位置距离光轴非常近,因此能提供几乎无阴影的照明,对于具有凹陷和深孔或需要长工作距离的样品非常适用。
点光源照明 (SLI)
点光源照明 (SLI) 具有灵活的鹅颈,可提供适合多种样品类型的高对比度照明。
漫射和高度漫射照明 (DI 和 HDI)
漫射和高度漫射照明 (DI 和 HDI) 设计用于高反射的非平面或曲面样品,这些样品由于背光反射量大很难成像。
多对比度照明 (MCI)
多对比度照明 (MCI) 利用两种方向和角度不同的照明进行重复对比,适用于难以找到细节的样品。
背光照明 (BLI)
背光照明 (BLI) 为透明样品提供透射照明。
使用 Leica LED5000 和 LED3000 照明的结果
以下显示的是各种样品的图像示例。这些图像是使用 LeicaM165 立体显微镜记录的,显微镜配有 Leica DFC495 数码摄像头和 LED3000 或 LED5000 系列照明系统。
样品:印刷电路板 (PCB)
样品:髋关节植入部分
样品:微电子学
其它推荐
在选择照明系统时,除了 Leica Microsystems 显微镜使用的高品质光学部件外,确定要分析的样品特征和观察所需的视场 (即视野) 也十分重要。
此外,还需考虑计算机编码的优势和适当的显微镜光学性能,即平场、复消色差、消色差等物镜镜头。
请牢记,还要顾及到其它照明因素:
·为了实现所需的光学性能,某些照明系统可能互不兼容,例如,Leica LED5000 RL 照明系统不能使用 2.0 倍物镜镜头
·必须考虑替代照明系统,例如,在使用带有物镜转盘的立体显微镜或使用小工作距离的显微镜配置时,应选用带有鹅颈系统的 Leica LED 点光源 (SLI) 而不是 Leica LED环形灯 (RL)。
结论
为立体显微镜下观察的样品选择最佳照明系统不是一件容易的事情。但是,当用户调查各种照明系统,以寻找能够为立体显微镜观察和图像记录提供最佳成像效果的照明系统时,本报告中给出的意见和建议可为用户提供一些帮助。
如今的汽车行业运用各种装饰性和功能性处理方法来改进汽车表面。经证实,使用传统质量控制方法来检验多层样品极其耗时,并伴有遗漏缺陷的风险。
新的检验手段将标靶面抛光系统和光学显微镜相结合,可实现前所未有的速度和可靠性。
徕卡显微镜在汽车行业应用中复合涂层检验
ABS 塑料铜镀层上的半光亮镍和光亮镍涂层。照片:Atotech Spain 公司提供
Atotech Spain 公司实验室经理 F. Javier Ruiz Balbas 解说了他的系统使用体验。Atotech 是为印刷电路板、高级包装和半导体制造以及装饰性和功能性饰面行业提供特殊化学品、设备、服务和解决方案的全球领先供应商之一。
Atotech Spain 公司实验室经理 F. Javier Ruiz Balbas
可否请您简单说明一下质量控制部门的工作流程以及您负责的任务?您要检测哪种缺陷?您要检查哪种类型的涂层?
Ruiz Balbas:Atotech Spain 公司的质量控制流程主要是接收发现有缺陷的部件。这种缺陷通过金相制备 (切割和抛光步骤) 进行序列分析,进而执行一系列检验。适当的样品制备完成后,我们会继续通过光学显微技术和扫描电子显微技术进行检验。我们的工作通常主要针对铜、镍、铬、锌、金等金属矿床生成的表面缺陷进行金相检验和测量。
您面临的特殊挑战有哪些?
Ruiz Balbas:在工作流程中,需要用最短的时间从一个缺陷中获取最多的信息,这是最有挑战性的任务。
带有镍/镍/铬涂层的铜金属。顶层镀有半光亮镍、光亮镍和铬涂层。
样品使用 Leica EM TXP 制备。照片:Atotech Spain 公司提供。
随着新材料的开发,汽车行业的质量控制要求发生了怎样的改变?
Ruiz Balbas:汽车行业所有领域都必须具有可持续性。这意味着如今我们操作的非 CMR (致癌、诱导基因突变或毒害生殖系统) 产品具有更高的物化性质,同时也正在向减排发展。总而言之,Atotech 受此推动十余年,将年营业额的 10% 投入到研发和材料科学方面。因此,我们一直是汽车行业的首选表面处理合作伙伴。
贵公司的质量控制如何脱颖而出?
Ruiz Balbas:我们的与众不同之处在于,我们在金相技术领域拥有广泛的经验。
在选择 Leica EM TXP/DM2700 M 系统之前,工作流程是怎样的?存在哪些缺点?
Ruiz Balbas:使用传统方法进行样品制备时,瞄准微小的缺陷和细节十分复杂。在许多情况下,样品操作和制备等人为操作因素很容易为成品质量带来变数,有时样品还会在研磨-抛光过程中倾斜。传统方法还需要为样品操作提供消耗性的辅助支持材料,例如用树脂包封样品。
使用 Leica EM TXP 标靶面抛光系统,我们能够通过受控的步级顺序改进材料切割-抛光过程。我们可以指定要在标靶细微结构上前移的微米数。受控的切割-抛光前进步级可在 0.5 微米至 100 微米之间选择。在这之前,我们根本看不到缺陷型材横截面的外观和准确程度。
如今采用 Leica EM TXP/DM2700 M 系统后,得益于其一体化体视显微镜,从横截面开始,到制备过程,再到完成,都可以从不同的角度查看样品。
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