Leica Cleanliness Analysis Systems清洁度分析系统

汽车与电子行业供应商和制造商可以使用高效可靠的技术清洁度解决方案来分析颗粒数量、尺寸和成分，确保提高产品性能和使用寿命。 徕卡显微系统公司的清洁度分析系统可提供优化的软件和独特的目视与化学分析二合一解决方案。

您将获得的优势

• 在更短的时间内进行更多的分析，提高通量。

• 更好地了解颗粒来源，改善风险评估，做出更有信心的决定。

• 满足您当前的所有需求，并为不断变化的需求做好准备。

更快获得结果

确保更高效地获得清洁度分析结果：

• 对于大小介于5-10微米之间的颗粒，可节省30%的过滤器样本扫描时间。

• 对于大小超过25微米的颗粒，对过滤器样本上颗粒物的扫描速度可以提高3倍。

更快地识别过滤器样本上的反光颗粒，通过优化算法更快地计算不规则形状颗粒的圆形直径。

通过自动分析多个过滤器样本的颗粒进一步简化您的工作流程，通过每批次同时分析多个过滤器来节省时间。

获得更多关于颗粒的见解

更可靠地识别“致命颗粒”。

颗粒越硬、越大，其损害潜力就越大。

• 自动区分金属和非金属颗粒。

• 轻松区分颗粒和纤维。

• 用自动化的软件工具测量颗粒高度。

将激光聚焦于污染源。

使用Cleanliness Expert软件和激光诱导击穿光谱技术(LIBS)二合一的解决方案同时进行目视检查和化学分析。

• 在同一台仪器上完成整个分析工作流程。

• 无需在样本传送和额外样本制备上浪费时间。

• 在确定微观结构成分方面节省90%的时间*。

*与传统的扫描电镜/能谱仪检查相比

灵活满足您目前和未来的工作需求

满足您目前的要求

符合国际和地区标准，包括用于汽车业的ISO 16232和VDA 19，用于液压油和机油的ISO 4406和DIN 51455，以及用于制药业的USP 788。 您还可以自行定义标准，按照组织机构的规范和流程进行分析。

满足您未来需求的方法

升级到二合一解决方案，同时进行目视检查和化学分析。 DM6 M显微镜可轻松加装激光诱导击穿光谱技术(LIBS)。

您还可以调整清洁度分析系统，用放大倍数更高的物镜来观察更小的颗粒。

根据您的需求选择合适的清洁度分析系统

根据国际和地区标准更高效可靠地进行颗粒计数和分类，选择专用的配置，以满足您的具体需求。

标准系统

带有Cleanliness Expert分析软件的Emspira 3数码显微镜。

• 颗粒尺寸最小25微米

• 手动区分金属和非金属颗粒

• 颗粒的X和Y方向测量

高级系统

DM6 M显微镜、K3摄像头和Cleanliness Expert分析软件。

• 颗粒尺寸最小5微米

• 全自动识别金属和非金属颗粒并区分颗粒和纤维

• 颗粒的X、Y和Z方向测量

专业系统

配备LIBS、K3摄像头和Cleanliness Expert分析软件的DM6 M显微镜。

• 颗粒尺寸最小5微米

• 全自动识别金属和非金属颗粒并区分颗粒和纤维

• 颗粒的X、Y和Z方向测量

• 同时识别颗粒成分

• 无需传送样本和额外的样本制备