重庆市 两江新区
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汽车工业现在会通过一系列装饰或功能性处理改善车身表面。然而，用于检测多层样本的传统质控方法不仅耗时，而且还会漏检缺陷。结定位表面研磨系统和光学显微镜的新方法有望提高检测的速度和可靠性。
安美特西班牙实验室经理F. Javier Ruiz Balbas讲述了自己使用这一系统的体验。安美特是一家全球领先的供应商，专为印刷电路板、先进包装和半导体制造以及装饰性和功能性表面处理提供特种化学药品、设备、服务和解决方案。
您能简单介绍下质控部门的工作流程吗？
Ruiz Balbas：安美特西班牙质控部门的工作流程主要是接收存在已知缺陷的部件。我们首先要通过金相制样对缺陷进行序列分析，例如切割和抛光环节，然后再执行后续的检测工作。样本制备好后，我们会使用光学显微镜和扫描电子显微镜执行检测。我们的工作主要是金相检验和测量，多围绕沉淀金属中产生的表面缺陷，例如铜、镍、铬、锌、金等。
您工作中的主要挑战是什么？
Ruiz Balbas：最大的挑战是如何在最短的时间内获得尽可能多的缺陷信息。
图：黄铜镍/镍/铬镀层顶部的半光亮镍、光亮镍和铬镀层。样本使用徕卡EMTXP制备。照片：安美特西班牙
图：ABS塑料上的铜涂层上的半光亮镍和光亮镍涂层。照片：安美特西班牙
随着新材料的发展，汽车工业中对质控的要求有哪些变化？
Ruiz Balbas：可持续性已经成为汽车工业各环节都必须满足的一项要求。也就是说，我们不仅要确保产品中不含致癌、致突变或生殖毒性物质（CMR），优化物理化学属性，还要减少碳排放。为此，十多年来，安美特一直坚持将我们年收入额的10%投入研发和材料科学领域。因此，我们也一直是汽车工业的首选表面处理合作伙伴。
您公司的质控部门有哪些独特的优势呢？
Ruiz Balbas：我们的优势主要在于我们在金相技术领域拥有丰富经验。
在使用徕卡EM TXP/DM2700 M系统之前，工作流程是怎样的？有哪些不足之处？
Ruiz Balbas：传统的样本制备方法很难发现细微的缺陷和问题。在很多情况下，人工操作因素，例如移动或样本制备，都会导致饰面发生变化；或者在某些情况下，磨削-抛光过程还会导致样本倾斜。移动样本的过程中，还需要很多的辅助性支持材料，例如使用树脂包覆样本。
使用徕卡EM TXP表面定位研磨制备系统，在材料切割和抛光过程中，我们可以通过可控的步骤序列实现渐进式操作。我们可以针对目标细节指定想要增加的微米数量。可控的切割-抛光递增量可以从0.5微米到100微米的范围内自由选择。在此之前，我们根本无法可视化表面外观或缺陷轮廓上确切的横截面。
现在使用徕卡EM TXP/DM2700 M后，从横截面开始到制备再到完成，利用一体式立体显微镜，我们可以从不同角度观察样本，实现表面外观和横截面的可视化。
您在日常工作中已经积累了一些操作徕卡EM TXP/DM2700 M的经验，那么您对它有什么概括性的总结呢？系统的哪些优势对您的质控工作帮助最大？
Ruiz Balbas：它操作起来灵活、自由，可以在短时间内获得高质量结果。它能确保样本制备方法的一致性和可重复性，进而保证样本分析准确无误。
END
相关产品
Leica DM2700 M正置金相显微镜
关于徕卡显微系统
徕卡显微系统的历史最早可追溯到19世纪，作为德国著名的光学制造企业，徕卡显微成像系统拥有170余年显微镜生产历史，逐步发展成为显微成像系统行业的领先的厂商之一。徕卡显微成像系统一贯注重产品研发和最新技术应用，并保证产品质量一直走在显微镜制造行业的前列。
徕卡显微系统始终与科学界保持密切联系，不断推出为客户度身定制的显微解决方案。徕卡显微成像系统主要分为三个业务部门：生命科学与研究显微、工业显微与手术显微部门。徕卡在欧洲、亚洲与北美有 7 大产品研发中心与 6 大生产基地，在二十多个国家设有销售及服务分支机构，总部位于德国维兹拉(Wetzlar)。了解更多信息，请访问：www.leica-microsystems.com.cn
来源:徕卡显微系统https://mp.weixin.qq.com/s/O4b7hcVhermpLAeux5w-ag
老款LAS软件已于2022年3月底停止服务，同时为回馈中国广大徕卡显微系统工业显微镜用户，徕卡公司将LAS软件升级优惠活动延续至2022年12月31日。即刻将您现有的LAS软件升级到全新LAS X软件，全新的功能等您体验！LAS X软件是徕卡公司德国软件团队研发的多功能应用软件，在这个软件平台上不但能实现徕卡多型号特别是数码显微镜及摄像头的统一操控，利用各图像处理功能模块完成特殊的图像采集工作，还可以对图像进行处理及高级分析，在配合数码显微镜采集图像时，能够自动识别物镜的倍数，在所拍摄的图片里加入相应的标尺等自适应功能。LAS X划重点2020年之后购买的LAS用户，全部可以免费从LAS升级到LAS X（包含清洁度专家软件模块）对于2020年之前购买的LAS用户，我们也依然提供多种优惠福利：活动一将原有的LAS 软件升级成 最新版LAS X软件，优惠价仅需 $380活动二购买>7500$的新硬件或维修配件，可免费升级原有的LAS软件 （包含清洁度专家软件模块），同时享受徕卡Service工程师免费上门注意事项：部分优惠升级活动内容不包含工程师上门服务费 （具体请咨询当地销售）钢铁专家模块需另外核算；一个LAS License key编号只能用于一次优惠或免费升级；如果客户需更换电脑，请自行采购电脑。来源： 徕卡显微系统https://mp.weixin.qq.com/s/4xBoQCWA8i4rz7udhHkJmw
老款LAS软件已于2022年3月底停止服务，同时为回馈中国广大徕卡显微系统工业显微镜用户，徕卡公司将LAS软件升级优惠活动延续至2022年12月31日。即刻将您现有的LAS软件升级到全新LAS X软件，全新的功能等您体验！
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LAS X
划重点
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如果客户需更换电脑，请自行采购电脑。
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使用现在已开发的各种荧光蛋白和多色探针几乎可以标记任何分子。 对囊泡、细胞器、细胞和组织中的蛋白质动力学成像的能力为了解细胞在健康和疾病状态下如何工作提供了新的洞察力。 这些包括有丝分裂、胚胎发育和细胞骨架变化等过程的时空动态。
研究活细胞时，常见的障碍包括光毒性和光损伤。 要捕捉快速的生物过程，关键是保持细胞健康并获得清晰的图像，确保数据可靠、无伪影。 活‐细胞显微成像通常需要在图像质量与细胞健康之间作出取舍。 在成像过程中必须保持特定的环境条件，以免细胞发生变化。
各种高性能的徕卡成像解决方案可以克服活细胞成像的这些挑战，有助发现细胞生理学和动力学方面的新信息。
成像过程中的细胞活性和动力学
徕卡显微系统为您提供活细胞成像方面的智能创新。 我们的解决方案可帮助您获得最佳的图像质量，同时保护好您的样本。
大多数细胞过程在三维空间中随着时间的推移进行。 因此，若要掌握全面的情况，必须以四个维度（XYZ 和时间）对细胞成像。 延时‐成像方法可捕捉从几秒到几个月内的细胞事件。 也可以在特定时间点对细胞重复成像。 为了在这个过程中保护细胞活性，活细胞成像时需要温度、酸碱度和湿度都受到控制。 曝光量也应在最低限度，以免发生光毒性。
徕卡显微系统提供的成像解决方案有助于优化您对活细胞的研究，即使是长时间的研究也同样如此。 它们能提供必要的图像对比度和分辨率，有助动态事件的分析。 一些徕卡成像系统还能实现高速成像，因此不会错过任何关键的细胞事件。
您的活细胞成像需求
要想成功地进行活细胞成像实验，使用合适的平台至关重要。 在选择用于活细胞成像的光学显微镜时，应考虑以下3个变量：检测器灵敏度（信噪比）、样本活性和图像采集速度。
适合活细胞应用的方法能够在不损伤细胞的情况下对动态事件成像，因为细胞损伤会影响结果。
活细胞成像主要使用荧光显微镜进行。 宽场显微镜可灵活激发和快速采集，通常用于对细胞动态和发育进行长时间成像。 共聚焦显微镜通常用于研究亚细胞动态事件。 多光子显微镜可使用较长波长的光激发，可减少光漂白并延长细胞活性。 最后，荧光寿命成像 (FLIM) 可用于研究细胞中的快速动态信号事件。
徕卡显微系统的 THUNDER 成像系统、STELLARIS 共聚焦平台和 FLIM 提供了最新的宽场和共聚焦成像创新技术，可快速进行 3D 活细胞成像。
关于活细胞成像
除了细胞或器官的结构组织，细胞动态过程是一个功能生物实体的主要贡献者。当然，这些过程可以在活细胞中通过非侵入性技术如光学方法观察到，统称为“活细胞成像”方法。活细胞成像涵盖了所有用显微镜观察活细胞的技术——从用体视显微镜观察胚胎发生，到用复合显微镜研究细胞生长，直到用荧光染料或荧光蛋白研究细胞的生理状态或细胞运输。尽管对实验人员和设备(如成像系统，温度、CO2浓度控制)都要求很高，但活细胞成像技术提供的结果是当今研究不可或缺的。
正确的清洁度分析解决方案对质量控制至关重要。本文介绍了选择适合自身需求的解决方案时应考虑的一些重要因素。这些因素取决于不同的方面，例如行业（微电子或汽车）、污染物类型、尺寸、成分、材料属性和可能造成的损害等。
从基本的清洁度验证到更复杂的分析，有多种基于显微镜和激光光谱的清洁度解决方案可供选择。
“
介 绍
汽车零部件和电子元件中的微粒子污染会对产品性能和使用寿命产生严重的影响[1-3]。如果关键部件受到重度污染，车辆或设备系统就会出现重大故障。因此，对于现代制造和生产中的质量保证，清洁度分析在确定颗粒物尺寸和材料属性方面具有重要的作用。为帮助用户选择适合自己需求的正确清洁度分析解决方案，下文列出了一些需要考虑的主要因素。
需要考虑的因素
为找到最适合用户需求的清洁度分析解决方案，可以先思考下面的几个问题。
主要应用是什么？
清洁度分析是否会影响组件和零部件的生产与组装，例如汽车和电子行业？如果是，那么这两个行业对颗粒物污染有着严格的要求，包括类型、大小、成分和可能造成的损害等，通常要按照ISO 16232、VDA 19或ZVEI（电子工程技术清洁度）等标准和指南执行分析[2,4]。或者清洁度分析是针对液压流体、润滑剂、燃油和医药产品？对大多数机械系统而言，需按照ISO 4406和DIN 51455标准来对液压流体、润滑剂和燃油执行清洁度分析[5]。医药产品清洁度分析通常遵循USP 788标准。由于不同应用的清洁度分析存在重大的差异，选择的解决方案需要能够准确可靠地确定颗粒物分析所要求的各项参数。
图1：示例A)汽车零部件和组件，和B)印刷电路板(PCB)，清洁度分析在质量控制和生产中可以发挥重要的作用。
要分析的颗粒物的尺寸是多大？
在汽车行业中，大颗粒物(>25 µm)和坚硬的颗粒物（陶瓷和金属）由于其磨损性质可能会造成严重的损害。但对于亚微米级的电子元件，即使是较小的颗粒物（5到10µm或更小）也会造成问题。对于流体清洁度，需要分析5µm或更大的颗粒物。选择清洁度分析解决方案时，了解要分析的颗粒物的尺寸非常重要。
图2：清洁度分析中的滤膜里污染物的图片，显示了不同尺寸的颗粒物。
应用需要区分反光颗粒物和非反光颗粒物吗？
反光颗粒物，即导电性颗粒物，通常为金属，相比非导电性颗粒物，通常为非金属，可对汽车零部件和电子元件造成更大的损害。因此，在确定颗粒物可能造成的潜在损害时，如果能够区分反光和非反光颗粒物，会大有帮助。如果清洁度分析解决方案能够帮助用户有效区分反光颗粒物和非反光颗粒物，用户便可以更好地确定颗粒物可能造成的损害。
确定颗粒物材料重要吗？
如果清洁度分析的最终目标是找到并清除污染物来源，则了解颗粒物的成分便十分有用。在这种情况下，理想的解决方案应能够帮助用户高效可靠地识别颗粒物材料。
图3：使用光学显微镜和激光光谱确定的铝合金颗粒物的成分。
来源：徕卡显微系统 https://mp.weixin.qq.com/s/iJ3mZ8KS3LLKLQ1Y315olg
大多数人在使用显微镜时都采用明场照明。遗憾的是，对很多生物标本来说，明场显微镜通常只提供低对比度图像，在其中几乎无法辨别任何细节。使用染色剂可以增加明场的对比度，但这也有一个风险，即染色剂可能对活细胞有毒。在DIC显微镜中，DIC指的是微分干涉对比法，与明场显微镜相比，其无需染色剂也可以更大的对比度观察多种生物标本的结构。这种光学对比法主要是利用偏振光和样本的厚度或光密度差异，这种差异会导致通过样本的光发生相移。只有特定的徕卡显微镜具备DIC。其可用于观察各种生命科学或法医学应用中的细胞或组织。DIC显微镜也可用于某些材料和地球科学应用。
DIC是微分干涉对比法，这是一种显微镜光学对比技术，通过其可以获得充足的对比度和分辨率，从而观察到未染色的生物标本的细胞结构。它也能帮助观察材料表面上小的高度差异。只用偏振光照亮样本时，偏振光被分散成两束具有正交偏振平面的不同光线。当光线在样本中经过不同的折射或散射后，会出现不同的相移。这些光线再次汇聚时，它们会相互干扰并变成椭圆偏振光。这种偏振光通过分析仪时会变为振幅偏移。在DIC图像中，可以观察到差异小于1/1000个波长的相移（当用相机传感器检测时）。DIC显微图像呈浮雕状，看上去有阴影。
DIC显微镜是一种宽视场显微镜，在光源镜与聚光镜之间，以及在物镜和相机传感器或目镜之间，都设有偏振滤光器和沃拉斯顿棱镜。如需更多DIC显微镜设置信息，请参阅文章： 微分干涉对比（DIC）与金相学
DIC显微镜是一种使用偏振滤光器和沃拉斯顿棱镜的传统宽视场显微镜。
光源散发出的光会穿过滤光器，变成45°的偏振光。在穿过沃拉斯顿棱镜后，光会被分成垂直偏振分量，其中一个为0°偏振，另一个为90°偏振。聚光镜将光聚集在标本上，再由2束偏振角度不同的连贯平行光线照射到标本上。光线穿过不同的光路长度，因为其穿过样本的路径上可能存在厚度或折射率差异。最后的结果是，一条光线相对于另一条光线出现相移。垂直偏振光通过物镜和另一个沃拉斯顿棱镜后，重新组合成135°偏振光。根据光路长度的不同，这两束光线的干扰会产生建设性（增亮）或破坏性（变暗）干扰，使得原本用明场显微镜几乎观察不到的结构现在可通过DIC显微镜观察到。最后，偏振滤光器（也称为分析仪）会将未发生任何相移的直接透射光滤除，其只允许135°的偏振光通过。如需了解详细信息，请参阅文章： 微分干涉对比（DIC）
来源：DIC显微镜 | 产品 | 徕卡显微系统 (leica-microsystems.com.cn)
本报告简要讨论了几种常用于评估表面形貌（也称表面结构或表面光洁度）的重要计量方法和标准定义。随着纳米技术、薄涂层以及电路和装置小型化的出现，表面计量学已经成为一个极其重要的科学和工程领域。其从微米级和亚微米级特征的角度研究表面形貌的精确、代表性表征。这些特征构成了表面的波纹度、粗糙度和层次。形貌在确定许多现代技术、组件、部件和产品（例如电机、涂层、电子设备等）所用材料的机械、热、光学和电气性能方面起着至关重要的作用。
什么是表面计量学？它为什么有用？
表面计量学是测量表面的特征（规则图案、不规则性、粗糙度、波纹度、关键尺寸等）。表面形貌（也称为表面纹理或光洁度）在很大程度上决定了其机械和物理性质，例如摩擦、粘附、氧化、导热性和导电性等。形貌对于先进技术和设备（高级涂层、轴承、热、光学和电子/半导体装置）所用的材料很重要。例如，较大的表面粗糙度通常会增加两个接触部件之间的摩擦力。部件之间的摩擦力变大会导致更快的磨损和更短的寿命。半导体表面微小不规则性的形成可引起电荷局部化和非均匀电学性质。由于氧化、表面张力、污染或加工，表面区域的性能通常而与主体区域不同，表面区域可大致定义为材料表层的前100个原子层。例如，机械或化学抛光或蚀刻等材料制备方法会导致表面缺陷和粗糙。由于用于制备表面的大多数工艺（机械或化学）会导致缺陷和不规则性，因此需要计量仪器和方法来评估表面形貌，并确定其对设备性质（包括性能、可靠性和使用寿命）的影响。表面计量学方法用于检查和测量表面不同长度尺度和空间频率的形貌。粗糙度通常通过测量表面图案或不规则性的高度、宽度和周期性/频率来确定。波纹度由比粗糙度更大尺度（较低频率范围）的表面不规则性定义。均匀表面是各向同性的。层次是指表面特征的方向性（各向异性），其通常是由于材料制造或处理引起的。下文将讨论这些标准形貌或纹理参数（粗糙度、波纹度、层次和缺陷）。表面表征方法肉眼、指尖和低分辨率光学显微镜通常可快速评估宏观特征和大缺陷。然而，精细表面轮廓和形貌的详细测量则需要先进的表面表征技术。可使用各种高分辨率技术，通过二维或三维（2D或3D）测量来确定表面形貌。为特定目的选择合适的技术非常重要，因为它们都有其优势和局限性。在这里，我们仅介绍材料科学中一些最广泛使用的方法，例如表面探针（触针、AFM）、光学与干涉测量方法和电子束方法。测量落在表面线轮廓或区域上的点的垂直（z）高度，并显示表面的2D轮廓或3D图。使用定义的统计分析方法分析数据，所得值用作表征表面形貌的参数，更具体地说，即表面粗糙度、波纹度、层次和缺陷。可使用各种方法获取2D或3D的表面形貌图像。最常用的是[1-3]：接触/非接触式轮廓测量法和探针显微镜，其中形貌数据通过表面上的精细探针扫描来收集；使用光的干涉测量、聚焦和相位检测或共聚焦显微镜的光学轮廓测量法；以及使用通常需要特殊软件来显示3D形貌的扫描电子显微镜（SEM）。常用的探针成像方法是原子力显微镜（AFM）。虽然其可获得非常高的横向（XY）和垂直（Z）分辨率，但获取形貌数据非常缓慢，且存在表面改变或损坏的风险。此外，由于磨损和污染，探针的形状和尺寸可能在扫描期间发生改变。这种现象会影响所获取表面形貌中特征的外观，因为探针和特征几何形状混合在一起，这是一种卷积[4]。图1显示了一个示例。通过AFM获取良好结果，还要求用户拥有一定的经验。
表面计量学是测量表面的特征（规则图案、不规则性、粗糙度、波纹度、关键尺寸等）。表面形貌（也称为表面纹理或光洁度）在很大程度上决定了其机械和物理性质，例如摩擦、粘附、氧化、导热性和导电性等。形貌对于先进技术和设备（高级涂层、轴承、热、光学和电子/半导体装置）所用的材料很重要。例如，较大的表面粗糙度通常会增加两个接触部件之间的摩擦力。部件之间的摩擦力变大会导致更快的磨损和更短的寿命。半导体表面微小不规则性的形成可引起电荷局部化和非均匀电学性质。
由于氧化、表面张力、污染或加工，表面区域的性能通常而与主体区域不同，表面区域可大致定义为材料表层的前100个原子层。例如，机械或化学抛光或蚀刻等材料制备方法会导致表面缺陷和粗糙。由于用于制备表面的大多数工艺（机械或化学）会导致缺陷和不规则性，因此需要计量仪器和方法来评估表面形貌，并确定其对设备性质（包括性能、可靠性和使用寿命）的影响。
表面计量学方法用于检查和测量表面不同长度尺度和空间频率的形貌。粗糙度通常通过测量表面图案或不规则性的高度、宽度和周期性/频率来确定。波纹度由比粗糙度更大尺度（较低频率范围）的表面不规则性定义。均匀表面是各向同性的。层次是指表面特征的方向性（各向异性），其通常是由于材料制造或处理引起的。下文将讨论这些标准形貌或纹理参数（粗糙度、波纹度、层次和缺陷）。
表面表征方法
肉眼、指尖和低分辨率光学显微镜通常可快速评估宏观特征和大缺陷。然而，精细表面轮廓和形貌的详细测量则需要先进的表面表征技术。
可使用各种高分辨率技术，通过二维或三维（2D或3D）测量来确定表面形貌。为特定目的选择合适的技术非常重要，因为它们都有其优势和局限性。在这里，我们仅介绍材料科学中一些最广泛使用的方法，例如表面探针（触针、AFM）、光学与干涉测量方法和电子束方法。
测量落在表面线轮廓或区域上的点的垂直（z）高度，并显示表面的2D轮廓或3D图。使用定义的统计分析方法分析数据，所得值用作表征表面形貌的参数，更具体地说，即表面粗糙度、波纹度、层次和缺陷。
可使用各种方法获取2D或3D的表面形貌图像。最常用的是[1-3]：
接触/非接触式轮廓测量法和探针显微镜，其中形貌数据通过表面上的精细探针扫描来收集；
使用光的干涉测量、聚焦和相位检测或共聚焦显微镜的光学轮廓测量法；以及
使用通常需要特殊软件来显示3D形貌的扫描电子显微镜（SEM）。
常用的探针成像方法是原子力显微镜（AFM）。虽然其可获得非常高的横向（XY）和垂直（Z）分辨率，但获取形貌数据非常缓慢，且存在表面改变或损坏的风险。此外，由于磨损和污染，探针的形状和尺寸可能在扫描期间发生改变。这种现象会影响所获取表面形貌中特征的外观，因为探针和特征几何形状混合在一起，这是一种卷积[4]。图1显示了一个示例。通过AFM获取良好结果，还要求用户拥有一定的经验。
表面表征的光学方法可以具有高垂直（z）分辨率，但不如探针方法或电子显微镜的横向（xy）分辨率。但是形貌采集要快得多。这意味着光学方法可提供大面积的表面形貌数据，使其更适用于可靠、准确的统计分析。
SEM也可获得非常高的分辨率，但需要在真空室中进行成像。如果材料的导电性不够，则在电子束中会发生充电，因此样品必须涂一层导电膜。采集图像通常会很耗时。
来源:徕卡显微系统
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取您所需，利用徕卡显微系统的细胞和组织培养倒置显微镜提高活细胞成像工作流程中的效率。
这些使用简便的显微镜允许您根据自身需求配置相应的成像解决方案，可搭载灵活多样的聚光镜选件和数字成像记录功能，从未为您的实验室打造恰到好处的解决方案。
徕卡细胞培养显微镜系统特性：
操作简便，所需的培训和维护量极小，以便您将精力都集中在研究工作上
冷光源 LED 照明在所有光亮度级别下提供恒定的色温
简易荧光装置 (选配) 可轻松呈现您的荧光标记
高清成像 (选配) - 将高清摄像头直接连接到显示器或 PC；提供高质量的可发表图像
灵活的工作距离，最高可达 80 mm，可容纳载玻片、petri 培养皿、多孔板和较高的培养瓶
细胞工厂解决方案可容纳最高 400 mm 的器皿
细胞分类
细胞外形
实验室培育的动物细胞可根据多项标准进行区分：
显微镜下可以轻松地识别其形态。成纤维样细胞为双极或多极细长形状，而上皮样细胞呈多边形。与上面两种细胞不同的是，淋巴母细胞样细胞并非贴壁生长，而是悬浮生长。
细胞的类型可细分为永生细胞、原代细胞和干细胞。
细胞组织形式可谓丰富多样，从简单的二维单层培养细胞到二维共培养细胞，再到三维球状细胞团和类器官
名称
形态学
来源
COS
成纤维细胞样
非洲绿猴
HEK 293
上皮样
人类
CHO
仓鼠
MDCK
狗
HeLa 细胞
Jurkat
淋巴母细胞样
将细胞系用于细胞培养的一些实例。
细胞培养材料
如何培养细胞
动物细胞在各类不同的器皿中培养，涵盖用于基础研究的小型微流体装置、用于筛选目的的 96 孔板乃至用于大规模药物生产的细胞培养瓶和细胞工厂。
鉴于其一次性使用特点，多数容器使用塑料制成。其它器皿则专为显微镜应用优化设计，因此具有玻璃底。
动物细胞培养基包含：
水
能量来源
氨基酸
维生素
以及盐类
此外，它还包含缓冲系统和 pH 值指示剂，用于检查 pH 值是否平衡。
细胞培养维护
您的日常工作内容是什么？
由于细胞会消耗培养基中的成分，必须定期补充培养基。在这种情况下，细胞培养过程中应进行目视检查，以观察汇合程度和健康度并检测潜在的微生物污染。
永生细胞系的一个特征就是无限增殖。因此，它们必须时不时进行分裂 (传代) 并转移至单独的培养器皿中。
通常，培养的细胞在用于实验前就进行了基因改造。例如，借助 转染操作，研究人员为所需要的蛋白质添加 荧光标记 ，以便通过显微镜将其可视化。
MDCK cells in different confluence stadiums.
显微镜 – 基本要求
我需要哪种工具？
为管理细胞培养实验室的日常工作，显微镜是一件必需品。此类显微镜必须具备倒置配置。倒置显微镜采用“物镜位于样品下方，聚光镜位于样品上方”的设计，这样就能使物镜尽量贴近细胞，并在上方保持较大的工作距离。
由于动物细胞的固有反差极低，细胞培养显微镜必须提供诸如相差等反差观察法。DIC (微分干涉相差) 在这里无法发挥作用，因为该技术无法配合塑料器皿用于细胞培养。DIC 有一个很好的替代方案，那就是 IMC (整合调制相差)，该技术不仅能搭配塑料容器使用，而且无需借助专用物镜或棱镜。此外，细胞培养显微镜应易于操控，以避免浪费时间。
徕卡细胞培养显微镜具备出色的易用性，并可针对个性化需求提供灵活多样的反差观察方法。
显微镜 – 高级要求
一种很常见的细胞生物学科研手段是使用荧光标记转染细胞，以便使用研究型显微镜进行后续研究。如果您使用荧光蛋白，您的细胞培养显微镜还需要配备荧光选件，以用于控制转染效率。
为实现重要的记录和标准化目的，显微镜应配备数字摄像头，最好能够记录和梳理拍摄的数据。
由于细胞培养实验室都存在空间问题，细胞培养显微镜的尺寸不宜过大，例如，最好能安装在超净台中。此外，最新趋势都要求显微镜设计得足够小巧和稳固，以便在培养箱内部使用。
明场
相差
微分干涉相差 (DIC)
整合调制相差 (IMC)
荧光
放大倍率
工作距离
摄像头
Leica DM IL LED
+
-
PH：5x 至 63x
IMC：10x、20x、32x、40x
40 mm、80 mm
+ (自由选择)
Leica DMi1
10x、20x、40x
40 mm、50 mm、80 mm
+ (集成式)
用于大批量生产应用的显微镜
生产生物材料 (例如蛋白质、疫苗或抗体) 需要在大型器皿中培养细胞。
为应对这一要求，相关的细胞培养显微镜必须具备较大的工作距离和视场。此外，它需要具备极高的稳定性，以便牢固地承载大型器皿乃至大量器皿。
Leica DM IL LED 可使用超长透射光照明臂进行配置，以便您自由调节细胞培养器皿所需要的工作距离，高度最高可达 40 cm。
细胞检测
活细胞应用
细胞培养是一个动态过程。与其它任何生物系统一样，细胞的生长和行为有时难以预测。因此，长期监测比仅仅在单个时间点检查细胞培养过程更具优势。
而这正是显微镜能够一展所长的地方，您可将其放置在培养箱中，以便全天候不间断地监测细胞。例如，借助这一特性，您可随时随地检查细胞培养的汇合程度。
光学显微镜是由两组透镜组成的光学折射系统，其中焦距较短、靠近观察物、成实像的透镜组称为物镜，焦距较长、靠近眼瞳、成虚像的透镜组则称为目镜。位于物镜前方的观察物体由物镜作放大后成倒立的实像。光学显微镜分为正置显微镜和倒置显微镜
然后，该实像再被目镜作二级放大，在位于人眼的明视距离处，得到放大效果的倒立虚像。通过显微镜机械调焦系统，可以调整并满足相对于物镜的成像条件以及观察者明视距离的二次成像条件。
光学显微镜分为正置显微镜和倒置显微镜。两者区别为：
1、物镜与载物台的相对位置不同：正置显微镜物镜转换盘朝向是向下的，载物台在物镜下方；倒置显微镜的物镜是向上的，载物台在物镜上方。
2.适用条件不同：正置显微镜物镜适合观察切片等；倒置显微镜适合观察到培养皿里面的活体细胞。
3.工作距离不同：正置显微镜物镜工作距离比较短；倒置显微镜工作距离长。
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